產品特性：

1、采用單扣/雙扣式旋鈕結構，下壓平穩，保證IC的壓力均勻，不移位；

2、雙頭探針或單頭焊接式探針結構，保證探針和PCB板接觸良好；

3、整體采用高性能工程材料制作，可跟據客戶要求、滿足24H/48H/72H老化測試，測試電流最高可達10A，電壓220V/380V，可滿足：濕度90%，及軍工三溫:-45攝氏度/常溫/+150攝氏度的溫差等惡劣老化測試環境。

4、最小可做到的測試間距：雙頭探針:Pitch=0.25mm，單頭焊接:Pitch=0.5mm

用途：集成電路產品老化驗證測試

可根據用戶要求定做各種陣列的Socket

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深圳圓融達微電子技術有限公司

YRD Microelectronics Technology Co., Ltd

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