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深圳圓融達(dá)微電子技術(shù)有限公司

BGA/QFN/QFP等封裝的芯片測(cè)試治具,攝像光學(xué)芯片成像測(cè)試,老化座/燒錄座/OS測(cè)試治...

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定制BGA484老化座 IC老化測(cè)試 高溫 BGA芯片測(cè)試
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產(chǎn)品: 瀏覽次數(shù):262定制BGA484老化座 IC老化測(cè)試 高溫 BGA芯片測(cè)試 
品牌: YRD
單價(jià): 面議
最小起訂量:
供貨總量:
發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 3 天內(nèi)發(fā)貨
有效期至: 長(zhǎng)期有效
最后更新: 2019-08-22 15:34
  詢價(jià)
詳細(xì)信息
 根據(jù)不同的芯片封裝形式,分為LGA/BGA/QFP/CQFP...等老化座 

產(chǎn)品特性:

1、采用單扣/雙扣式旋鈕結(jié)構(gòu),下壓平穩(wěn),保證IC的壓力均勻,不移位;

2、雙頭探針或單頭焊接式探針結(jié)構(gòu),保證探針和PCB板接觸良好;

3、整體采用高性能工程材料制作,可跟據(jù)客戶要求、滿足24H/48H/72H老化測(cè)試,測(cè)試電流最高可達(dá)10A,電壓220V/380V,可滿足:濕度90%,及軍工三溫:-45攝氏度/常溫/+150攝氏度的溫差等惡劣老化測(cè)試環(huán)境。

4、最小可做到的測(cè)試間距:雙頭探針:Pitch=0.25mm,單頭焊接:Pitch=0.5mm

 

用途:集成電路產(chǎn)品老化驗(yàn)證測(cè)試

 

可根據(jù)用戶要求定做各種陣列的Socket

您如果對(duì)我們的產(chǎn)品感興趣的話,請(qǐng)直接聯(lián)系我們或者留下聯(lián)系方式。

深圳圓融達(dá)微電子技術(shù)有限公司

YRD Microelectronics Technology Co., Ltd

電話:0755-33127975

傳真:0755-66644411

郵箱:yrd@ictst.cn

地址:深圳市龍華新區(qū)觀瀾大富工業(yè)園20號(hào)硅谷動(dòng)力智能終端產(chǎn)業(yè)園A5棟一樓

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