四探針測試原理

四探針技術要求使用四根探針等間距的接觸到材料表面。在外邊兩根探針之間輸出電流的同時，測試中間兩根探針的電壓差。最后，電阻率通過樣品的幾何參數，輸出電流源和測到的電壓值來計算得出。四探針法測量半導體電阻率測試方案，使用普賽斯儀表自主研發的高精度S型源表，既可以在輸出電流時測試電壓，也可以在輸出電壓時測試電流。輸出電流范圍從皮安級到安培級可控，測量電壓分辨率高達微伏級。支持四線開爾文模式，因此適用于四探針測試，可以簡化測試連接，得到準確的測試結果。

普賽斯源表功能：精確提供四象限電壓或電流，并同步測量電流和電壓；可以實現電源、萬用表、電子負載、電源/測量組合功能；

用途：精確提供和測量電壓和/或電流，廣泛應用于各種電器特性參數測試中，如IV掃描；

普賽斯源表優勢：四象限工作，源和負載；電壓及電流范圍廣，電流100pA~1A，電壓0.3mV~300V，準確度為0.1%；5寸觸摸顯示屏圖形化操作，內置強大的功能軟件，加速用戶完成測試；支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網；

額外功能（軟件實現的）：二極管IV掃描及參數分析、三極管IV掃描及參數分析、LIV測試系統、太陽能電池放電測試系統、電池充放電循環系統等；

普賽斯源表應用領域：分立半導體器件特性測試，電阻、二極管、發光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SIC等；能量與效率特性測試，LED/AMOLED、太陽能電池、電池、DC-DC轉換器等；傳感器特性測試，電阻率、霍爾效應等；有機材料特性測試，電子墨水、印刷電子技術等；納米材料特性測試，石墨烯、納米線等；

普賽斯源表應用方案：二極管IV測試、激光二極管LIV測試、三極管MOS管IV測試、APD管IV測試、太陽能電池板特性參數測試、電池充放電特性參數測試、電化學循環伏安測試；

普賽斯源表替代方案：吉時利2400/2450、是德B2901

普賽斯數字源表應用優勢：

1、多功能測量需求下的廣泛的適應性，電壓高300V，電流低至100pA；

2、實現“源”的輸出和“表”的測量同步進行，提高測試效率。

3、具備對測試器件的保護功能，可進行自我限制，避免因過充而造成的對測試器件的損害；精確的電壓電流限制功能，為器件提供完善的保護功能，避免器件損壞。

4、觸屏圖形化操作，使用簡單。開放式平臺，可根據實際應用的需求而針對性的開發軟件。

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